Развитие метода эллипсометрии для in situ контроля параметров наноструктур Fe/Si
Семинар отдела ФМЯ
| Когда |
2014-05-20 c 13:30 по 14:30 |
|---|---|
| Где | конференц-зал главного корпуса |
| Имя | Докладчик: Тарасов И.А. |
| Участники |
Руководитель семинара: д.ф.-м.н., профессор Овчинников С.Г. |
| Добавить событие в календарь |
vCal (Windows, Linux)
iCal (Mac OS X)
|
Обсуждение результатов диссертационной работы