<!DOCTYPE html> Развитие спектральной эллипсометрической методики анализа структурных и магнитных свойств низкоразмерных структур Fe-Si — Русский
Вы здесь: Главная / Информация / Семинары / Семинары 2014 / Развитие спектральной эллипсометрической методики анализа структурных и магнитных свойств низкоразмерных структур Fe-Si

Развитие спектральной эллипсометрической методики анализа структурных и магнитных свойств низкоразмерных структур Fe-Si

Совместный семинар Лаборатории физики магнитных явлений (ИФ СО РАН) и Базовой кафедры «Космические материалы и технологии» (СибГАУ)

Когда 2014-06-09
c 10:30 по 11:30
Где конференц-зал главного корпуса
Имя Докладчик: С.А. Лященко
Участники Руководители семинара:
д.ф.-м.н., профессор С.Г. Овчинников
д.ф.-м.н., профессор С.В. Карпов
Добавить событие в календарь vCal (Windows, Linux)
iCal (Mac OS X)

Обсуждение результатов диссертационной работы

Навигация
« Апрель 2025 »
Апрель
ПнВтСрЧтПтСбВс
123456
78910111213
14151617181920
21222324252627
282930