<!DOCTYPE html> Международная конференция «Микро- и наноэлектроника – 2016» — Русский
Вы здесь: Главная / Информация / Конференции / Архив прошедших конференций / 2016 / Международная конференция «Микро- и наноэлектроника – 2016»

Международная конференция «Микро- и наноэлектроника – 2016»

03 - 07 октября 2016 г., г. Звенигород, Московская обл.,

Информационное сообщение

Международная конференция "Микро- и наноэлектроника – 2016" (ICMNE-2016), включающая расширенную сессию "Квантовая информатика – 2016" (QI-2016), будет проводиться с 3 по 7 октября 2016 г. в д/о "Ершово", Звенигород, Московская обл. Она продолжает серию Всероссийских конференций "MНE-1999", "MНE-2001", "КИ-2002" и международных конференций "ICMNE-2003", "QI-2004", "ICMNE-2005", "QI-2005", "ICMNE-2007", "QI-2007", "ICMNE-2009", "QI-2009", "ICMNE-2012", "QI-2012", "ICMNE-2014", "QI-2014".

Конференция охватывает большинство областей физики микро- и наноразмерных приборов, а также микро- и наноэлектронных технологий. ICMNE-2016 будет сконцентрирована на освещении последних достижений в этой сфере.

В рамках конференции будет проводиться выставка диагностического и технологического оборудования для микроэлектроники.

Рабочий язык конференции ICMNE-2016 - английский.

Тематика:

Материалы и пленки для микро- и наноэлектронных структур:

  • Si, SOI, DOI, SiGe, A3B5, A2B6
  • High-k диэлектрики, low-k диэлектрики
  • Металлы для затворов, контактов и систем металлизации наноразмерных приборов
  • Магнитные материалы, наномагнетики
  • 1D и 2D материалы
  • Материалы для оптоэлектроники, солнечной энергетики, метаматериалы

Технологии микро- и наноэлектроники, технологическое оборудование:

  • Суб-100 нм литография: DUV, EUV, электронная и ионная литография, наноимпринт
  • Плазменные и ионно-пучковые процессы и технологии для микро- и наноэлектроники
  • Ионная имплантация: пучковая и плазменно-иммерсионная
  • Процессы CVD, молекулярная эпитаксия

Метрология:

  • In situ методы мониторинга технологических процессов
  • Методы контроля, диагностики и характеризация микро- и наноструктур

Физика и технология микро- и наноразмерных приборов:

  • Тенденции масштабирования: More Moore, beyond CMOS, and more than Moore trends
  • Нанотранзисторы: CMOS FET, TFET, SET, молекулярные и другие
  • Интегральные устройства памяти, DRAM, ReRAM, FeRAM
  • Приборы оптоэлектроники, фотоники
  • Сверхпроводящие микро- и наноприборы и устройства
  • Приборы оптоэлектроники, фотоники
  • Микро- и наноэлектромеханические системы (MEMS, NEMS)
  • Моделирование

Технологии и перспективное технологическое оборудование для приборов микро- и наноэлектроники:

  • Суб-65 нм литография: DUV, иммерсионная, EUV, электронная и ионная литография, наноимпринт
  • Front-End of Line (FEOL) процессы для технологии УБИС
  • Back-End of Line (BEOL) процессы для технологии УБИС
  • Технологии получения 2D материалов (графен, MoS2, WS2 и другие)
  • Технологии создания МЭМС и НЭМС
  • Технологии создания сверхпроводящих приборов

Квантовая информатика:

  • Квантовые компьютеры: теория и эксперимент
  • Квантовые измерения
  • Квантовые алгоритмы
  • Квантовая связь

Оргкомитет ICMNE-2016 приветствует доклады, присланные от академического сообщества, университетов, промышленности. Программный комитет будет оказывать предпочтение докладам, содержащим результаты последних оригинальных исследований, соответствующих тематике конференции. Тезисы доклада и полные тексты для публикации в SPIE должны быть написаны ясным и лаконичным английским языком.

Файлы тезисов докладов на ICMNE-2016 направлять по адресу icmne2016@gmail.com.
Последний срок отправки тезисов 1 августа 2016.

относится к:
Навигация
« Март 2025 »
Март
ПнВтСрЧтПтСбВс
12
3456789
10111213141516
17181920212223
24252627282930
31