Исследование свойств новой двумерной пленки состава Nb3SiTe6
|
Рис. 1 а) снимок образца пленки Nb3SiTe6, б) изображение выбранного участка в атомно-силовом микроскопе; 2L, 5L и 6L – число слоев; вставка показывает высоту би-слоя (~ 1.4nm). |
Проведено исследование свойств новой двумерной пленки состава Nb3SiTe6.Результаты исследования опубликованы в высокорейтинговом журнале Nature Physics [1]. Экспериментально и теоретически получено, что при уменьшении толщины пленки в ней появляется эффект слабой антилокализации в магнитосопротивлении, что позволило сделать заключение о подавлении электрон-фононного взаимодействия, вызванного модификацией фононного спектра при переходе от трехмерной к двумерной системе. |
1. Nature Physics J. Hu, X. Liu, C. L. Yue, J. Y. Liu, H. W. Zhu, J. B. He, J. Wei, Z. Q. Mao, L. Yu. Antipina, Z. I. Popov, P. B. Sorokin, T. J. Liu, P. W. Adams, S. M. A. Radmanesh, L. Spinu, H. Ji & D. Natelson. Enhanced electron coherence in atomically thin Nb3SiTe6 // Nature Physics. -2015.–V.11.– P.471 – 476. [doi:10.1038/nphys3321].