<!DOCTYPE html> Анализ структуры и магнитных свойств интерфейса в многослойных наноструктурах (Fe/Si)N с применением поверхностно-чувствительного метода XMCD — Русский
Вы здесь: Главная / Информация / Семинары / Семинары 2014 / Анализ структуры и магнитных свойств интерфейса в многослойных наноструктурах (Fe/Si)N с применением поверхностно-чувствительного метода XMCD

Анализ структуры и магнитных свойств интерфейса в многослойных наноструктурах (Fe/Si)N с применением поверхностно-чувствительного метода XMCD

Семинар лаборатории ФМЯ

Когда 2014-05-19
c 10:30 по 11:30
Где конференц-зал главного корпуса
Имя Докладчик: Платунов М.С.
Участники Руководитель семинара: д.ф.-м.н., профессор Овчинников С.Г.
Добавить событие в календарь vCal (Windows, Linux)
iCal (Mac OS X)

Статья в печать

Навигация
« Апрель 2025 »
Апрель
ПнВтСрЧтПтСбВс
123456
78910111213
14151617181920
21222324252627
282930